ChatGPT 자꾸 거짓말 할래? ChatGPT 자꾸 거짓말 할래?

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2의 보수 방식의 장점을 요약하면 다음과 같습니다 :- MSB가 0이면 양수, 1이면 음수임을 확신할 수 있음.- 음수를 더하는 방식으로 뺼셈 수행 가능- 음수의 비교연산에서 발생하는 모순 해결 (음수끼리 만)- 0이 단 한 가지 방식으로 표현 가능- 덧셈 및 뺄셈에서 캐리의 발생시 캐리를 처리하는 회로를 구성할 필요가 없음. ==================================================그럼 4비트 이진수를 예로 들어 설명해 드릴게요.숫자 5를 4비트 이진수로 표현하면:5 = 0101숫자 -3을 2의 보수로 표현하는 과정:3을 4비트 이진수로 표현하면:3 = 0011이 숫자의 1의 보수를 취하면:0011 → 1100이 1의 보수에 1을 더하면 2의 보수가 됩니다:1100 + ..

https://www.elec4.co.kr/article/articleView.asp?idx=28521 [연재 기고] 저전력 IC 기술동향 분석; 경쟁력 높은 IC 구현을 위한 ‘IP 저전력’ 설계 최근 모바일 기기뿐만 아니라 IT 모든 기기들의 고속화, 다기능화로 인하여 저전력 IC는 선택이 아니라 필수가 되었다고 할 수 있다. www.elec4.co.kr >>> "Multi-voltage design"과 "multi-threshold voltage design"은 두 가지 다른 개념이며, ASIC (Application-Specific Integrated Circuit) 또는 다른 집적 회로 디자인 분야에서 사용되는 중요한 개념입니다. 1. **Multi-Voltage Design (다중 전압 디자인..

>>> SDF (Standard Delay Format) 파일은 일반적으로 ASIC 설계 및 검증 과정에서 타이밍 정보를 제공하기 위해 사용됩니다. 이 파일은 주로 두 단계에서 생성됩니다: 1. **타이밍 분석 후**: ASIC 설계 과정에서, 논리 설계 후의 타이밍 분석 단계에서 SDF 파일이 생성될 수 있습니다. 이때의 SDF는 논리 설계의 타이밍 정보를 포함하며, 주로 RTL (Register-Transfer Level) 설계 단계나 게이트 수준의 타이밍 검증에 사용됩니다. 2. **물리적 설계 후**: 보다 정확한 타이밍 정보를 위해, 물리적 설계 단계(레이아웃 및 배치와 배선)가 완료된 후에도 SDF 파일이 생성됩니다. 이 단계에서의 SDF 파일은 실제 칩 제조 과정에서 고려해야 할 각종 물리적..

ASIC (Application-Specific Integrated Circuit) 설계 과정에서 "Layout"과 "GDS"는 매우 중요한 단계 및 파일 형식을 나타냅니다. ### Layout - **정의**: ASIC 설계에서 Layout은 실리콘 칩 상에 전자 회로의 물리적 배치를 나타냅니다. 이것은 트랜지스터, 저항, 전선, 그리고 기타 전자 부품들이 칩 상에서 어떻게 배치되고 연결되는지를 상세하게 보여줍니다. - **목적**: Layout은 실제 제조 과정에서 칩이 어떻게 생겨야 하는지를 결정합니다. 이 단계에서 성능, 면적, 전력 소모, 그리고 신호 무결성 등이 고려됩니다. - **도구**: 이러한 레이아웃은 EDA (Electronic Design Automation) 도구를 사용하여 설계되..

ECC (Error-Correcting Code)와 CRC (Cyclic Redundancy Check)는 데이터의 무결성과 정확성을 보장하는 데 사용되지만, 그들의 구현 방식에는 중요한 차이가 있습니다: 1. **ECC의 추가 비트:** - ECC는 오류를 감지하고 정정하기 위해 추가 비트를 사용합니다. 이러한 비트는 원래 데이터에 첨가되어 오류 정정 코드를 형성합니다. - 예를 들어, Hamming 코드와 같은 ECC 방식은 각 데이터 블록에 대해 여러 오류 정정 비트를 추가합니다. 이러한 추가 비트의 수는 정정할 수 있는 오류의 종류와 수에 따라 달라집니다. - 이 추가 비트는 데이터 저장 공간의 효율성을 약간 감소시킬 수 있으며, 데이터 처리에 추가적인 계산을 요구합니다. 2. **CRC의 다항식..

write(addr,wcnt,wdata0,wdata1,wdata2); 처럼 write 할때, 주소와 wcnt 를 뒤에 따라오는 wdata0,w,data1 등의 갯수만큼 넣어 준다. 단, 아래처럼 최대로 wcnt 할 수 있는 갯수의 데이타를 초기값을 할당한 상태로 지정해 준다. task write(input addr, input [7:0] wcnt, input [31:0] wdata0 = 0 , wdata1 = 0, wdata2 = 0, wdata3 = 0, ..., wdata255 = 0); logic [8*256-1:0] wdata_all; wdata_all = {wdata255, .... , wdata1, wdata0 }; // 일단, 데이터들을 모두 모으고, 8bit 씩 write 하는 task를 ..

- SCAN - - LBIST라고도 하며 MBIST가 memory test를 위한 logic 이였다면 sacn은 logic test를 위한 logic입니다. - Logic test는 Stuck-at Faults와 Transition Delay를 test 하기 위한 방법입니다. → Test pattern을 사용하여 나오는 결괏값을 golden output이랑 비교하며 진행합니다. SCAN의 구성요소 Scan Flip-Flop - Flip-Flop 앞에 MUX를 연결하여 scan enable 신호를 control 할 수 있게 만든 Flip-Flop Scan chain - Scan Flip-Flop를 shift register처럼 serial로 묶어 놓은 것 Scan compressor - Scan chain..